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江苏台式显微镜 TM4000II/TM4000PlusII

江苏台式显微镜 TM4000II/TM4000PlusII

  • 所属分类:江苏台式电子显微镜
  • 浏览次数:
  • 发布日期:2021-08-18 11:14:27
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台式扫描电子显微镜(SEM)全新升级。 我们以“更高画质、更易于使用、更易于观察”为理念,开发出TM4000系列。在此基础上,我们又推出功能更为多样的TM4000Ⅱ系列。 为您提供全新的观察和分析应用。
  • 特点
  • 规格
  • 选项
  • 功能
  • 观察示例

◆   观察图像3分钟。可迅速获得所需数据,并制作报告。

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观察与分析的灵活性

自动获取各类数据。快速切换!

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可快速获得元素分布图*2

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*1TM4000PlusⅡ的功能。*2选配

使用Camera Navi*的话,就是如此简单

Camera Navi图像让您轻松找到视野,分布图(MAP)功能全程支持您的观察

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*选配:Camera Navi系统

您也可以观看视频

操作简单且快捷

观察图像只需 3 分钟。

可快速观察图像,并导出测试报告。

Report Creator可让您轻松制作报告

只需选择图像和模板,就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的报告

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◆  即便是绝缘物样品,也无需预处理,就可直接进行观察。

“静电减轻模式”可抑制静电现象

对于容易产生静电的样品,可使用“静电减轻模式”,在抑制静电的状态下进行观察。

只需用鼠标在软件上点击即可切换到“静电减轻模式”。

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可在低真空的条件下进行多种观察

对于容易产生静电的粉末或含水等样品,可结合其目的进行观察。

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◆   可在低真空的条件下进行二次电子像(表面形状)观察。

无需预处理,也可以观察绝缘物和含水、含油样品的表面

不仅是观察传统的导电性样品,还可以在无预处理的条件下观察绝缘物和含水、含油样品。可快速进行二次电子像与背散射电子像之间的切换。

高感度低真空二次电子检测器

采用高感度低真空二次电子检测器(UVD)。通过检测由于电子线与残留气体分子之间的碰撞而产生的光,可以观察带有二次电子信息的图像。此外,通过控制该检测器,来检测电子照射所产生的光,可以获得CL信息(UVD-CL:带有CL信息的图像)。

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高感度低真空二次电子检测器的检测原理

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◆  可支持加速电压20 kV

TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速电压20 kV。

凭借EDS分析(选配),可进行更高计数率解析。

通过加速电压20 kV,实现EDS元素分布图的高S/N化

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◆  Multi Zigzag(选配)

可实现在广域范围内进行SEM观察。

搭配自动马达台,可实现低倍率,高精度,大范围的观察分析。

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◆  EM 样品台(选配)

可轻松观察 STEM 图像

与全新开发的 STEM 样品台和高灵敏度低真空二次电子检测器(UVD)配合使用,可轻松观察小倍率 STEM 图像。

可轻松观察薄膜样品和生物样品。

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* UVD为 TM4000Plus II上的配件。

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样品:研磨剂

加速电压:20 kV

观察信号:(a) STEM 图像, (b) 背散射电子像

放大倍率:10000 倍


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样品:老鼠肾脏

加速电压:15 kV

观察信号: STEM 图像

放大倍率:1000倍


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样品:老鼠肝脏

加速电压:15 kV

观察信号: STEM 图像

倍率:5000倍


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